高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)特性測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)原理

        高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀校驗(yàn)裝置是用于校驗(yàn)高壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀時(shí)間測(cè)量功能的專業(yè)儀器。本文將介紹高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀驗(yàn)證裝置的結(jié)構(gòu)原理。
        高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置的整體結(jié)構(gòu)主要包括微處理器、交直流輸入轉(zhuǎn)換、模數(shù)轉(zhuǎn)換、識(shí)別電路、精密時(shí)基電路和人機(jī)友好界面顯示。在高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀的基礎(chǔ)上，配備的軟件編輯器包括計(jì)算機(jī)技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、檢測(cè)技術(shù)等，可以完成高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性的功率輸出參數(shù)的驗(yàn)證。測(cè)試儀、開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間參數(shù)等功能。
        從驗(yàn)證裝置的整體結(jié)構(gòu)可以看出，驗(yàn)證任務(wù)主要通過(guò)兩個(gè)處理通道來(lái)完成。一種是將電壓信號(hào)輸出到衰減電路，然后送到A/D轉(zhuǎn)換電路，再通過(guò)光耦送到MCU進(jìn)行運(yùn)算處理，再通過(guò)LCD顯示結(jié)果，從而完成高壓開(kāi)關(guān)動(dòng)態(tài)特性測(cè)試儀功率參數(shù)分析的驗(yàn)證。另一個(gè)開(kāi)關(guān)動(dòng)作信號(hào)經(jīng)輸入電路調(diào)整，與本電路的信號(hào)相匹配，再送入識(shí)別電路，轉(zhuǎn)換成單片機(jī)可識(shí)別的數(shù)字信號(hào)，經(jīng)過(guò)光耦后由單片機(jī)處理，對(duì)處理后的結(jié)果進(jìn)行相應(yīng)的處理。然后向外輸出控制信號(hào)，完成開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí)間參數(shù)的校驗(yàn)。人機(jī)友好界面主要包括LCD顯示和操作按鍵。